6. Комплекс микроструктурирования поверхности оптических материалов

Ответственный:
д. т. н. Корольков Виктор Павлович,
тел.: (383) 3333-091; факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Общая характеристика:

Экспериментальный комплекс микроструктурирования поверхности оптических материалов обеспечивает возможность напыления покрытий, формирование микрорисунка фотошаблонов, микроструктуры рельефно-фазовых оптических элементов на поверхности оптических подложек.

Комплекс позволяет изготавливать фотошаблоны общего назначения, бинарные и многоуровневые дифракционные оптические элементы, конформальные корректоры аберраций лазерных кристаллов, травить кварцевые подложки на глубину до 5 мкм, напылять плёнки хрома и меди на подложки диаметром до 350 мм, изготавливать экспериментальные образцы прецизионных подложек, линз и призм, осуществлять резку оптических кристаллов.

Состав:

• Установка магнетронного напыления металлов АТС-220ОН;
• Установка реактивного ионного травления Plasmalab 80Plus;
• Круговая лазерная записывающая система CLWS-300IAE;
• Чистая комната участка фотолитографии с комплексом приборов микроскопического и профилометрического контроля;
• Оптический участок с комплексом технологического и метрологического оборудования по изготовлению уникальных оптических элементов.

5. Комплекс прецизионного прототипирования

Ответственный:

Кожевников Михаил Леонидович
тел.: (383) 330-89-17;
факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Общая характеристика:

Комплекс прецизионного прототипирования проводит полный цикл работ по изготовлению опытных образцов и опытных партий изделий по чертежам заказчика. Поддержка собственной базы экспериментального производства сделала ЦКП ИАиЭ СО РАН незаменимым партнёром по разработке приборов и технологического оборудования для ряда российских научно-производственных организаций, ограниченных в возможностях использования импортного оборудования. Сосредоточение современного технологического оборудования в ЦКП при академическом институте в сочетании с высочайшей квалификацией операторов создаёт центры компетенции, которые становятся базой для делового сотрудничества с российскими научно-производственными предприятиями и помогает им перейти на новые технологии и выпуск новой продукции.

Состав комплекса:

• Обрабатывающий центр с ЧПУ ВХ300А (Pinnacle Machine)
• Станок круглошлифовальный MG1432E/1000
• Станок токарный с ЧПУ НТС45150
• Станок универсальный заточной "РР-50+50D+50F"

4. Комплекс для исследований материалов методами терагерцовой спектроскопии

Ответственный:
к. ф.-м. н. Анцыгин Валерий Дмитриевич,
тел. (383) 3308453; факс: (383) 3308878;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Общая характеристика:

Широкополосная терагерцовая (ТГц) спектроскопия предназначена для:

• исследования полупроводниковых материалов и структур, в том числе систем пониженной размерности, без нарушения их функционирования;
• бесконтактных неинвазивных исследований конформационных превращений биологических объектов под влиянием окружающей среды и при взаимодействии друг с другом;
• изучения внутренней структуры и идентификации сложных биологических молекул (аминокислот, полипептидов, белков, ДНК и РНК);
• неинвазивной диагностики, в т. ч. в медицине;
• обнаружения взрывчатых, наркотических и других опасных веществ.

Терагерцовые спектрометры с накачкой и регистрацией ТГц-излучения на основной (λ=1550 нм) и второй гармонике (λ=775 нм) импульсных (~100 фс) эрбиевых волоконных лазеров. Генерация терагерцового излучения осуществляется за счёт эффекта оптического выпрямления или эффекта Дембера, а регистрация напряжённости терагерцового поля - поляризационно-оптическим методом.

Спектрометры обеспечивают измерения отражения и пропускания

• спектральный диапазон: 0,1-2,5 ТГц
• спектральное разрешение ≤10 ГГц
• динамический диапазон
• амплитуды терагерцового поля ≥1000
• длина волны лазера накачки, нм 775, 1550
• длительность лазерного импульса, фс 100

3. Комплекс для исследования структуры материалов на нанометровых масштабах

Ответственный:
д. ф.-м. н., проф. Малиновский Валерий Константинович,
тел. (383) 3309048; факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Комплекс включает следующее основное оборудование:

• Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
• Тройной Рамановский спектрометр TR777AS с лазером Torus 750 и цифровой системой многоканальной регистрации спектра Spec-10 System
• Дифференционный сканирующий калориметр динамического тепловоого потока с системой охлаждения LN2
• Спектрометр JRS TFP-1в комплекте с источником излучения EXLSR-532-200-CD

                 

Тройной Рамановский спектрометр               Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V

2. Комплекс для создания и исследования оптических и нелинейно-оптических свойств нанокомпозитных сред

Ответственный:
к. ф.-м. н. Микерин Сергей Львович,
тел. (383) 3333174; факс: (383) 330-88-78;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Общая характеристика:

Комплекс обеспечивает возможность создания нанокомпозитных сред при лазерном испарении мишени в буферном газе, инфильтрации наноразмерных объектов в матрицы или пористые вещества, фотомодификации сред при лазерном воздействии, исследование оптических спектров сред, спектров комбинационного рассеяния, а также нелинейно-оптических свойств нанокомпозитных сред методами Z-сканирования, пробного поля, четырехфотонного рассеяния в широком спектральном диапазоне.

Комплекс включает следующие установки:

Лазерный быстродействующий элипсометр

Электронный микроскоп Hitachi TM-3000

Ближнепольный и атомно-силовой микроскоп «Nanonics MultiView 2000TM»

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Двухканальный спектрофотометр UV-Probe 2000 (Shimadzu)

Лазер Verdi - V10

1. Комплекс изготовления и тестирования оптоволоконных компонентов

Ответственный:
к. ф.-м. н. Терентьев Вадим Станиславович,
тел. (383) 3332003; факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Общая характеристика:

Комплекс обеспечивает возможность сборки оптоволоконных систем из компонентов и тестирования компонентов/систем в широком спектральном диапазоне.

Состав:

• Станция вытяжки оптического волокна / ответвителей Lightel CW-200B
• Приборы и аксессуары для обработки оптоволокна: скалыватель, стриппер, сварочный аппарат, восстановитель покрытия
• Измерительные приборы: анализатор оптического спектра (0,6-1,6 мкм), измеритель мощности (до 30 Вт), осциллограф
• Оптоволоконные компоненты: ответвители, мультиплексоры, WDMs и т. п.
• Диодные и оптоволоконные лазеры (0,98; 1,06; 1,24; 1,48; 1,55 мкм)
• Лазерный спектрометр на основе Ti:Sa лазера с накачкой Ar лазером (перестройка 850-1000 нм, ширина линии 10 МГц, автоскан 5 ГГц)

Оборудование комплекса: стенд подготовки и тестирования оптоволоконных компонентов, станция Lightel CW-200B, лазерный спектрометр.

Комплекс представлен двумя стендами:

Стенд подготовки и тестирования оптоволоконных компонентов

Стенд для измерения параметров фемтосекундного лазера

Кратко о ЦКП «Спектроскопия и оптика»

Центр коллективного пользования "Высокоразрешающая спектроскопия газов и конденсированных сред" при ИАиЭ СО РАН функционирует с 2002 г. За это время в его работе участвовали десятки научных групп из многих институтов Сибири, центральных областей России и зарубежных стран. Результаты, полученные с использованием оборудования ЦКП, нашли отражение более чем в 500 публикациях и доложены на десятках научных форумов.

Благодаря поддержке приборной комиссии СО РАН ЦКП за десятилетие пополнился новым уникальным оборудованием, что позволило на мировом уровне вести научные и прикладные исследования по приоритетным направлениям оптики и нанофотоники, включая фундаментальные основы лазерных и оптических технологий.

Большая часть работ, выполняемых в ЦКП, связана с изучением свойств новых (в том числе наноструктурированных) материалов, фотонных кристаллов, сенсоров и систем диагностики (в т. ч. на основе волоконной оптики). Исследования в этих областях открывают новые возможности для создания суперпризм, волноводов, оптических фильтров, микрорезонаторов, метаматериалов и т. д. Появляются новые перспективы в управлении оптическим излучением и его свойствами, в создании принципиально новых схем волоконных лазеров.

Все работы в ЦКП «Спектроскопия и оптика» курируются специалистами мирового уровня. Регулярно проводятся совместные семинары с участием сотрудников институтов СО РАН.

В 2012–2013 гг. ИАиЭ СО РАН как один из учредителей ЦКП выделил, отремонтировал и запустил в эксплуатацию помещения, специально предназначенные для компактного размещения оборудования ЦКП. Общая площадь помещений – 200 кв. м. Они расположены в пристройке к Институту, показанной на фотографии.

На двух этажах части здания, размещено недавно приобретённое для ЦКП оборудование. На первом этаже собраны технологические напылительные установки, стенд с фемтосекундным лазером. Там же на площади 35 кв. м. размещены микроскопы, профилометры и технологическое оборудование сектора микро- и наноструктурирования НГУ.

Оборудование сектора микроструктурирования и наноструктурирования НГУ

Первый этаж оснащён приточной вентиляцией с подогревом воздуха, очистной циркуляцией, вытяжной вентиляцией, локальной системой кондиционирования, централизованной системой охлаждения технологических установок.

Напылительные установки

На втором этаже ЦКП оборудованы помещения для аналитического оборудования нескольких физических лабораторий Института и НГУ.   
Во вновь оборудованных помещениях расположены:

Рамановский Фурье–спектрометр

Технические характеристики спектрометра:

• длина волны возбуждения 1064 нм;
• диапазон измеряемых частот 50–3600 см^-1;
• возможность измерения спектров КР в 90° и 180° геометриях;
• наличие двух портов для установки двух лазеров возбуждения;
• возможность регулировки положения исследуемого образца;
• высокая стабильность при сканировании;
• надёжность в эксплуатации.

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Прибор позволяет измерять спектры флюоресценции и возбуждения образцов различного типа (жидкости, твёрдые тела, порошки), обладает высоким спектральным разрешением до 1,5 нм (воспроизводимость 0,2 нм), широким спектральным диапазоном 200–900 нм, временным разрешением 1 мкс. Прибор имеет гибкие возможности настроек и расширения возможностей (установку дополнительного оборудования: криостат, термостабилизация и т. д.).