Делегация Исследовательского центра Самсунг ознакомилась с разработками Института автоматики и электрометрии СО РАН

30 октября состоялся визит делегации Исследовательского центра Самсунг в Институт автоматики и электрометрии СО РАН.

Делегацию возглавил вице-президент компании Samsung Electronics, директор Исследовательского центра Самсунг Jin Wook Lee.

Заместитель директора по научной работе д.т.н. В.П. Корольков представил информацию об Институте, а затем провёл экскурсию по нескольким лабораториям.

Члены делегации ознакомились с деятельностью ИАиЭ СО РАН в области компьютерной графики и дополненной реальности, проблем создания высокочувствительных скоростных газовых сенсоров, электретных MEMS-генераторов.

Фотографии: А.Т. Когабаева

Пресс-релиз в формате pdf